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透射電鏡，即透射電子顯微鏡（TEM），電子束在穿過樣品時(shí)，會(huì)和樣品中的原子發(fā)生散射，樣品上某一點(diǎn)同時(shí)穿過的電子方向是不同，這樣品上的這一點(diǎn)在物鏡1-2倍焦距之間，這些電子通過過物鏡放大后重新匯聚，形成該點(diǎn)一個(gè)放大的實(shí)像，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的超微結(jié)構(gòu)，主要應(yīng)用于物質(zhì)內(nèi)部的超微結(jié)構(gòu)觀察。